介电与阻抗分析仪

咨询报价

——频率范围内材料或成分的电性分析

阻抗分析仪测量的是随频率ω/(2π)变化的复阻抗Z*(ω) = Z'(ω) + jZ''(ω)，对于材料分析，我们将样品置于二个或多个电极之间来测量它的阻抗谱。

要准确分析样品的特性，对于阻抗分析仪的要求非常高，测量结果的质量及有效性大大依赖于仪器的性能。

实际应用中，一般大家的着眼点不仅在于获得特别高的精度，同时更希望能以全自动的方式来测量复阻抗Z*(ω), 介电常数ε*(ω) 或电导率σ*(ω)。

除了频率范围，阻抗范围、损耗精度tan(d)及相位差精度也是非常重要的性能参数。

低频分析仪<40MHz

Alpha和Beta 阻抗分析仪

- 量程：阻抗分析范围0.01~10¹⁴ W, tan(d) > 3*10^-5

- 结合一般阻抗分析仪和电介质测量系统的特性，提高了tan(d)的精度。

- 可很方便地测量几乎所有材料及成分，测量宽频低损耗电介质，如聚乙烯。

- 使用软件WinDETA.

阻抗分析仪 Alpha系列：

Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 2-wire input

ALPHA-L: Economical

F=3μHz…300KHz

ALPHA-K: Universal

F=3μHz…3MHz

ALPHA-N: Top Class

F=3μHz…20MHz

ALPHA-T: High frequency

F=3μHz…40MHz

阻抗分析仪 Alpha系列

阻抗分析仪 Beta系列：

Single Purpose High Performance Dielectric/Impedance Analyzer with 4-wire input

BETA-L: Economical

F=3μHz…300KHz

BETA-K: Universal

F=3μHz…3MHz

BETA-N: Top Class

F=3μHz…20MHz

BETA-T: High frequency

F=3μHz…40MHz

阻抗分析仪 Beta系列

Alpha-A 阻抗分析仪

- 量程：阻抗分析范围0.001 ~10¹⁵ W， tan(d) > 3*10^-5

- 结合一般阻抗分析仪、电介质和电化学测量系统的特性，提高了tan(d)的精度。

- 可很方便地测量几乎所有材料及成分，测量宽频低损耗电介质，如聚乙烯。

- 支持一系列高性能特殊功能test interfaces，如集成active sample cell, 四通道高阻抗测量,高电压/高电流测量。

- 使用软件WinDETA.

Alpha–A系列：

Frequency Response Analyzer (FRA) and Test Interface for multi-purpose applications

ALPHA-AL: High resolution economical FRA

F=3μHz…300KHz

ALPHA-AK: High resolution universal FRA

F=3μHz…3MHz

ALPHA-AN: High resolution top class FRA

F=3μHz…20MHz

ALPHA-AT: High resolution high frequency FRA

F=3μHz…40MHz

Alpha-A 阻抗分析仪

三种阻抗分析仪对比：

Alpha-A标准模块系列

Alpha单元系列

Beta单元系列

Alpha-A标准模块测量系统是单元分析仪Alpha和Beta的扩展。配合test interfaces，功能更加强大，使用更灵活。因此推荐用于新的系统设计。

- Alpha-A + ZG2 interface包含Alpha单元分析仪的所有功能。

- Alpha-A + ZG4 interface包含Beta单元分析仪的所有功能。

Alpha-A主机支持通过GPIB端口自动软硬件升级，利于将来与新研制的test interfaces配套。

Test Interfaces

- Test Interfaces扩展了Alpha-A的功能，Alpha-A主机在使用过程中必须连接至少一个Test Interfaces，主机自动检测到Test Interfaces，相应调整自身功能。

- 除了G22，所有Test Interfaces支持自动标准电容测量，且适合导体及绝缘体样品测量。

- 除了HVB，所有Test Interfaces支持二通道高精频率响应及相增益测量。

一般用于介电、电导、阻抗测量以及相增益谱

ZGS

二电极测量，具有与ZG2相同的功能，其集成于主动平板样品架上，用于温度控制系统。

推荐用于可置于平板电极之间的电介质或导体样品测量，如聚合物、半导体、玻璃、液体或粉末。

ZG2

二通道测量，结合BDS1200被动平板样品架或用户自制样品架。

ZG4

具有与ZG2相同的功能，另外，支持3或4通道测量，高阻抗1 TW | 10 pF，不同电压输入。

特别推荐用于：

- 接触电阻大、极化程度大的样品，如电解液、液体。

- 低阻抗样品，<1W，如强电解液，重掺杂半导体，金属，超导体。

高电压Interfaces用于介电、电导和阻抗测量

HVB300，HVB1000，HVB4000高电压Interfaces，用于直流或交流振幅，分别为±150 Vp或±500 Vp及±2000 Vp

特别推荐用于电介质、半导体及电子元件，在直流或交流高电压下，进行：

- 非线性介电、电导、阻抗测量

- 应力状态下材料性质测量

- 高阻抗样品（>10¹⁴ W）的测量

相增益Interfaces

G22

用于高精度频率响应与相增益测量，不能用于材料的阻抗测量。

分享到：