AFMinSEM
AFMinSEM
Nanoanalytik开发的原子力显微镜(AFMinSEMTM)空间结构紧凑,可在真空环境下实现高成像速度和高精度定位。
可集成在扫描电子显微镜(SEM)中实现样品的三维形貌表征,而不需要对SEM腔室进行额外的改造。附加新颖的微纳加工功能,如成像关联分析,扫描探针光刻,电子束诱导沉积,纳米加工(逆向工程,模板修复)等。
- 真空环境的微纳米结构表征制备系统
- 结构小巧,长X宽X高:110×70×50 mm
- 压阻读数和双材料激励全部集成在SmartProbe上
- 数据线标准法兰接口,适用于多数真空腔室
- 三轴纳米定位,水平移动范围20x20mm
功能指标:
工作环境 |
大气、真空 |
尺寸 |
108×70×50 mm (长*宽*高) |
重量 |
360 克 |
安装用时 |
< 5 分钟 |
最大样品尺寸 |
直径:70 mm,厚度:6 mm |
样品台旋转角度 |
0°- 90°、90°- 180° |
样品台倾斜角度 |
-10°- 60° |
SEM工作距离 |
最小 4 mm |
标准样片的三维表征
成像表征及关联分析
针尖光刻精准套刻
针尖诱导沉积
模板精准修复
[*reprinted with permission from J. Vac. Sci. Technol., B 36, 06J102 (2018); Copyright 1998 by American Institute of Physics]